复现 Halcon 经典例程：find_shape_model_max_deformation.hdev
例程说明
find_shape_model_max_deformation.hdev 通过对比实验，直观展示了是否允许变形（max_deformation）对搜索轻微变形物体的影响。该例程使用 MVTec Logo 作为模板，在一系列不同程度变形的测试图像中进行搜索，并统计两种模式下的匹配成功率、定位精度和运行时间。
两种模式的参数配置如下：
- 不允许变形：
SubPixel := 'least_squares_high' - 允许变形：
SubPixel := ['least_squares_high', 'max_deformation 10']
核心函数 create_mvtec_logo_broadened 负责从原始图像（pen-01）中提取 MVTec Logo 的高精度亚像素边缘，将其缩放、居中并绘制到一张全新的彩色图像上，最后根据输入参数对 Logo 进行加粗或变细处理。
改进要点
关于 Halcon 中 max_deformation 的实现原理，可以参考我之前的博客：局部可变形模板匹配算法的初步实现。本文重点说明改进方向与要点：
- 搜索模板点对应的图像边缘点时，搜索距离应适当增加（与变形量相关）。
- 最小二乘法获得的
dx、dy、dθ变化幅度会增大，需增加容错处理。 - 由于变形量较大，最小二乘法需要多次迭代才能收敛。
- 使用普通（未加权）最小二乘法，避免结果偏向目标的一侧。
经改进，当最大变形设为10，亚像素设为 LS_High，测试效果与 Halcon 基本一致。
